SynopsysSilicon.da完整的良率学习和良率优化流程，高精度地识别失效机制，用于失效分析 原图定位

Silicon.da 能够通过数据，即时结合供应链各阶段的改进，实现全面的产量优化。问题或关键兴趣点的自动分析和识别以见解的形式显示。零件级的可追溯性和调试支持快速的根本原因分析，并将纠正措施建议反馈到供应链中。子模具分析也可用于新产品引入（NPI）产品的早期阶段，以确定导致故障分析的系统问题，这些故障分析阻碍了高产量和大批量 生产。通 过将传感器包含到设计中，使传感器数据的反 馈能够执行设计校准，芯片功率和性能优化成为可能。通过将产量趋势分析、诊断和失效分析与设计和/或工艺的改进相结合，可以实现全面的产量优化。在生产控制过程中，为质量优化提供了一个包含异常值检测技术的自动化配方流。