公司拥有全流程平台优势:在设计阶段,公司自主开发的可寻址、超高密度测试芯片设计技术及测试芯片的自动设计工具,能够便捷、快速地为客户设计出高效的测试芯片;在测试阶段,搭载可寻址、超高密度的测试芯片结合公司自主开发的晶圆级 WAT 电性测试设备,能够显著提升测试效率;在分析阶段,通过公司的数据分析软件,客户能够快速处理海量的测试数据,并实时反馈制造数据的分析结果。公司现有的解决方案已成功应用于180nm~3nm 等工艺技术节点。
公司拥有全流程平台优势:在设计阶段,公司自主开发的可寻址、超高密度测试芯片设计技术及测试芯片的自动设计工具,能够便捷、快速地为客户设计出高效的测试芯片;在测试阶段,搭载可寻址、超高密度的测试芯片结合公司自主开发的晶圆级 WAT 电性测试设备,能够显著提升测试效率;在分析阶段,通过公司的数据分析软件,客户能够快速处理海量的测试数据,并实时反馈制造数据的分析结果。公司现有的解决方案已成功应用于180nm~3nm 等工艺技术节点。