爱德万发展历程 原图定位 爱德万成立于 1954 年,最初业务为电子计数器。1971 年爱德万研发的日本第一台计算机控制的 IC 测试设备便推向市场。1976 年爱德万与富士通公司进行了业务整合,推出了 T320/60 等多款半导体测试设备,T310/31 作为全球唯一的DRAM 测试仪在全球获得巨大成功。1979 年公司推出 VLSI 测试系统、用于非存储设备的 T-3380 和用于存储设备的 T3370,奠定了其在存储器件测试领域的重要地位。80 年代至 90 年代,爱德万业务开始走向海外,1993 年爱德万在北京召开了“93 年北京最佳技术研讨会”,正式进入中国大陆市场。此后公司将业务延伸至 SoC 测试、MEMS 测试、SSD 测试。目前公司形成了以集成电路测试系统为核心、电子束光刻系统、SSD 测试、系统级测试等为辅助的业务体系。